МЕТОДИКИ ИЗМЕРЕНИЙ
методики измерений. нанотвердомеры testurion
Измерение электрических параметров поверхности
Применение инденторов из легированного бором токопроводящего алмаза позволило реализовать измерение сопротивления растекания в режимах сканирования, индентирования и измерения кривых подвода, а также измерения ВАХ области контакта при заданных значениях прижима или глубины внедрения индентора в поверхность.
Построение карты распределения проводимости производится путем сканирования образца при подаче постоянного напряжения между образцом и индентором. Измерение тока растекания в разных точках поверхности позволяет выявить различия в проводимости и геометрическую форму поверхностных структур или включений в образец. На Рисунке — а приведена карта проводимости сплава Al Cu Co, содержащего квазикристаллическую фазу. Участки различной яркости на карте проводимости соответствуют различным кристаллическим структурам данного сплава. На Рисунок -б представлено изображение того же участка поверхности, полученное в электронном микроскопе.
Измерение тока в процессе индентирования позволяет исследовать неоднородность материала по глубине, контролировать толщину покрытий, а также изучать фазовые переходы под давлением в полупроводниках. Совместная обработка данных о силе прижима и силе тока растекания в зависимости от глубины индентирования позволяет определить удельное сопротивление исследуемого материала. Измерения вольтамперных характеристик (ВАХ) происходят в режиме жесткого контакта с поверхностью исследуемого вещества, при силах прижима в диапазоне от 0.1 до 100 мН. Диапазон прикладываемых напряжений составляет ±10 В, измеряемых токов ± 30 мкА, разрешение по току не хуже 10 пА.
Микроструктура поверхности металлического сплава Al Cu Co. Карта проводимости (а); изображение в электронном микроскопе (б).
НАУЧСПЕЦПРИБОР
ооо «научспецприбор»
Отечественное аналитическое приборостроение
2026 НАУЧСПЕЦПРИБОР
Все права защищены