Нанотвердомер TESTURION

Нанотвердомер TESTURION

Нанотвердомер   TESTURION   имеет   в   своем   арсенале   практически   весь   спектр нагрузок   и   глубин,   реализуемых   в   приборах   для   осуществления   инструментального индентирования. Разработка нанотвердомера TESTURION была направлена на решение задач не только импортозамещения, но и появления на мировом рынке нового конкурентоспособного типа прибора, способного занять заметную долю рынка, потеснив традиционных производителей.

Микротвердомеры и нанотвердомеры НаноСкан

НаноСкан-HV

NANOSCAN-HV — первый отечественный автоматизированный микротвердомер, позволяющий проводить измерения микротвердости по Виккерсу. Сертифицирован и допущен к применению в сфере обеспечения единства измерений. В приборе реализованы алгоритмы автоматического нанесения массивов индентов и измерения границ отпечатков, позволяющие проводить различные измерения согласно требованиям пользователя, а также определять глубины поверхностной закалки (SHD, Surface Hardening Depth), цементации (CHD, Case Hardening Depth) и другие характеристики.

 

Более подробно с продукцией можно ознакомиться на сайте nanoscan.info

 
 

НаноСкан-3D

Сканирующий зондовый микроскоп комплексного исследования в диапазоне нагрузок до 50 мН. Прибор оснащен оптическим микроскопом и моторизованным предметным столиком для позиционирования объекта исследования. Получение изображения рельефа поверхности и проведение механических испытаний проводится одним наконечником в одном измерительном цикле. Высокая степень автоматизации измерений позволяет существенно повысить производительность исследований.

 

Более подробно с продукцией можно ознакомиться на сайте nanoscan.info

 
 

НаноСкан-4D

NANOSCAN-4D — Базовая модель нанотвердомера, реализующая основные методики измерения твердости, модуля упругости (Юнга) и ряда других механических параметров. В нанотвердомере реализованы методы статического индентирования, динамического индентирования и царапания. Возможно измерение рельефа поверхности в режиме контактного или полуконтактного профилометра. Наличие оптического микроскопа обеспечивает высокую точность взаимного позиционирования индентора и объекта исследований. Для данной модели доступны дополнительные узлы и датчики.

 

Более подробно с продукцией можно ознакомиться на сайте nanoscan.info